【活動報導】TPCIA 第三屆第三次理監事聯席會議暨研討會圓滿完成

【活動報導】TPCIA 第三屆第三次理監事聯席會議暨研討會圓滿完成

台灣被動元件產業協會(TPCIA)於 2026年9月17日(四)台中金典酒店舉辦「第三屆第三次理監事聯席會議暨研討會」,邀集協會理監事、會員及產業先進齊聚交流,活動順利圓滿完成。

本次活動首先召開第三屆第三次理監事聯席會議,就協會近期會務推動及後續工作規劃進行討論與交流。

研討會安排兩場專題演講。第一場由徐世祥教授主講「應用於光達與光學同調斷層掃描晶片化之矽光子元件測試平台及驗證方法」,分享矽光子元件測試及相關技術應用。

第二場邀請 Jonathan Cheng 主講「高頻光電量測(OVNA)在 CPO 被動元件開發的關鍵應用」,從高頻光電量測技術切入,分享其於 CPO 被動元件開發與測試上的應用。

兩場專題演講提供與會者技術交流與經驗分享的機會,並於演講結束後安排交流晚宴,讓會員及產業先進在輕鬆的餐敘中持續交流,增進彼此互動與產業連結。

感謝兩位講師帶來精彩的專業分享,也感謝各位理監事、會員及產業先進撥冗參與。TPCIA將持續透過研討會、產業交流及相關活動,促進會員間的互動與技術交流,共同推動台灣被動元件產業持續發展。